DF-750 — лучший выбор для анализа влажности в полупроводниковой промышленности. DF-750 — это анализатор влажности следовых/ультра-следовых количеств, оптимизированный для измерений в газах сверхвысокой чистоты (UHP), используемых на 300-миллиметровых заводах по производству полупроводников. Измерение влажности для контроля качества на предприятиях по производству полупроводников. Разработанный специально для измерения следов и ультра-следов влажности в ряде газов сверхвысокого давления, DF-750 оптимизирован для 300-мм полупроводниковых предприятий. Он измеряет влажность как загрязняющее вещество в газах, предназначенных для электроники, азоте, водороде, гелии, аргоне и кислороде. Сенсорная технология настраиваемого диодного лазера (TDL) обеспечивает лучший в отрасли нижний предел обнаружения (LDL) 100 частей на триллион (ppt), гарантируя, что стабильные и высокоточные измерения DF-750 отвечают потребностям точного мониторинга в производстве полупроводников. Надежный DF-750 имеет низкие требования к техническому обслуживанию в течение всего срока службы и обеспечивает стабильность нулевого дрейфа, что значительно увеличивает интервалы калибровки. Низкая стоимость владения в сочетании с исключительными характеристиками измерений означает, что DF-750 является лучшим аналитическим решением для проверки качества газа сверхвысокого давления. Высокая стабильность измерения следов/ультра-следов TDL. Квалификация ультра-следов электронных газов UHP необходима для производства полупроводников. Вам нужен анализатор влажности, который сможет обеспечить высокую стабильность измерений, а также чувствительность и стабильную производительность. Точный и низкий уровень ЛПНП является обязательным, равно как и необходимость легкого хранения и вызова данных/записей калибровки. Независимо от ваших требований, вам понадобится анализатор влажности, способный обеспечить эффективность работы. Мы не считаем, что вам следует идти на компромисс.
Технические характеристики
ХарактеристикиИзмеряемая величинаазот, кислород, водородОбласть применениямониторингИзмеряемое значениеследы, влажностьКонфигурациядля интеграцииТехнологииTDL
