ZEISS ABIS III сочетает в себе высокоскоростной контроль с надежным обнаружением всех соответствующих дефектов поверхности, таких как вмятины, выпуклости, вмятины, рябь, сужения, трещины, а теперь и царапины и следы давления. Система проверяет как движущиеся, так и неподвижные детали воспроизводимо и с высокой точностью во время производства и в течение всего цикла. Более того, он подходит не только для поточного, но и для поточного использования в производственной среде. Запатентованная технология Multi-Color-Light позволяет обнаружить даже самые мелкие дефекты. Всего через несколько секунд будет выдан цифровой отчет о проверке. Таким образом, такие функции, как Q-stop и цифровые данные о качестве, такие как визуализация дефектов для запланированных доработок, всегда доступны. Они создают основу для замкнутых контуров и являются предпосылкой для реализации интеллектуального управления процессом. ZEISS ABIS III, спроектированный и разработанный в Германии в соответствии с высочайшими стандартами качества, является идеальным решением как для современных прессовых цехов, так и для кузовных цехов, ориентированных на будущее. Одним из технических достижений в этом контексте является недавно разработанный модуль MCL. Запатентованная технология Multi-Color-Light позволяет обнаруживать мельчайшие типы дефектов с частотой до 20 Гц и временем оценки менее 0,5 секунды на одно сканирование датчика. В сочетании с программным обеспечением ZEISS ABIS V20 характеристики поверхности определяются в течение нескольких секунд и оцениваются в соответствии со спецификациями отдельных корпоративных стандартов. Программное обеспечение визуализирует типы дефектов, такие как вмятины, выпуклости, рябь, выступы и линии скольжения, в режиме реального времени, а также сохраняет результаты проверки в цифровом виде в базе данных.
Технические характеристики
ХарактеристикиКоличество осей3DПрименение для проверки поверхности
