Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

3D-профилометр S lynx, шероховатость поверхности, измерение формы, геометрия

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Компактный. Гибкий. Мощный. S lynx — это новый бесконтактный 3D-профилировщик поверхности, предназначенный для использования в промышленности и исследованиях. Он был разработан как компактная и универсальная система. S lynx способен измерять различные текстуры, структуры, шероховатость и волнистость в различных масштабах поверхности. Универсальность S lynx делает его пригодным для широкого спектра задач по измерению поверхностей высокого класса. Идеальная производительность гарантируется запатентованной измерительной технологией Sensofar 3-в-1 и дополняется невероятно интуитивно понятным управлением системой с соответствующим программным обеспечением SensoSCAN. Области применения — Автомобильная промышленность — Бытовая электроника — Энергетика — ЖК-дисплеи — Материаловедение — Микроэлектроника — Микропроизводство — Микропалеонтология — Оптика — Инструменты — Полупроводники — Производство часов Конфокальные Конфокальные профилометры были разработаны для измерения гладких и очень шероховатых поверхностей. Конфокальное профилирование обеспечивает самое высокое латеральное разрешение, которое может быть достигнуто с помощью оптического профилировщика. Таким образом, пространственная дискретизация может быть уменьшена до 0,01 мкм, что идеально подходит для измерений критических размеров. Доступны объективы с высокой числовой апертурой (0,95) и увеличением (150X) для измерения гладких поверхностей с крутыми локальными уклонами более 70° (для шероховатых поверхностей до 86°). Запатентованные конфокальные алгоритмы обеспечивают уникальную вертикальную повторяемость в нанометровом масштабе. Интерферометрия Вертикальная сканирующая интерферометрия в белом свете (VSI) — широко используемый и мощный метод измерения характеристик поверхности, таких как топография или структура прозрачной пленки.

Технические характеристики

ХарактеристикиТехнология3DФункцияшероховатость поверхности , измерение формы, геометрияПрименениедля промышленного применения, для полупроводников, для автомобильной промышленностиКонфигурациякомпактныйДругие характеристикибесконтактный