Поставка оптоэлектронных компонентов ведущих мировых производителей

193 нм, 15 нм на полувысоте, диаметр 50 мм. Первый поверхностный УФ-полосовой фильтр

72 966 

Доставка импортных компонентов по России от 3х недель транспортными компаниями СДЭК, Деловые Линии, Major Express.
Оплата физическими и юридическими лицами безналичным расчетом.
Цена может измениться после запроса у поставщика!

Описание семейства продуктов

  • Центральные длины волн в УФ-диапазоне от 193 нм
  • Первое поверхностное полосовое покрытие с защитным покрытием
  • Доступны диаметры 25 и 50 мм

Полосовые УФ-фильтры имеют центральные длины волн в ультрафиолетовом (УФ) спектре, которые совпадают с длинами волн, обычно используемыми в качестве аналитических спектральных линий, включая 193 нм, 214 нм и 248 нм. Эти несмонтированные фильтры имеют полосовое УФ-покрытие на первой поверхности, а также защитное покрытие, устойчивое к умеренному истиранию. Простая конструкция этих фильтров обеспечивает большую устойчивость к воздействию окружающей среды по сравнению с традиционными УФ-фильтрами с покрытием. Полосовые УФ-фильтры предназначены для высокой передачи в УФ-диапазоне и с глубокой блокировкой для длин волн от рентгеновского до дальнего инфракрасного (FIR), которые находятся за пределами их узкой полосы пропускания. Типичные области применения включают рамановскую спектроскопию, а также химический спектральный анализ.

Технические характеристики

Diameter (mm): 50.00 +0.00/-0.25 Angle of Incidence (): 0 Optical Density OD (Average): 4.0 Clear Aperture CA (mm): 45 Center Wavelength CWL (nm): 193.00 &plusmn,2.5 Full Width-Half Max FWHM (nm): 15.00 &plusmn,3 Substrate: Many glass manufacturers offer the same material characteristics under different trade names. Learn More Fused Silica (Corning 7980) Minimum Transmission (%): 12 Coating: First Surface Surface Quality: 80-50 Thickness (mm): 1.50 &plusmn,0.25 Type: Bandpass Filter Blocking Wavelength Range (nm): 200 — 2000
Regulatory Compliance RoHS 2015: Compliant Reach 224: Compliant Certificate of Conformance: View